Name: defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits (en Inglés)
SKU: 19192494
Price: 8057.00 UYU
Availability: InStock
Author: sachdev, manoj
ISBN: 9780387465463

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits (en Inglés)

defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

springer

Autor

sachdev, manoj

Año

2007

Idioma

Inglés

N° páginas

328

ISBN

0387465464

ISBN13

9780387465463

Categorías

Ingeniería eléctrica

defect-oriented testing for nano-metric cmos vlsi circuits (en Inglés)

Sachdev, Manoj (Autor) · springer · Libro Físico

Libro Nuevo Importado

Envío: 16 a 22 días háb.

$ 14.648$ 8.057

-45%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan más de 100 unidades

$ 8.057

Llega entre el 01 Oct y el 09 Oct a Montevideo, Montevideo. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Opiniones del libro

¿Leíste este libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia evaluación.

Ver más opiniones de clientes

0% (0)
0% (0)
0% (0)
0% (0)
0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

¿El libro es original?

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.

¿En qué Idioma está escrito el libro?

El libro está escrito en Inglés.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre