Name: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (en Inglés)
Price: 9729.00 UYU
Availability: InStock
Author: Sadewasser, Sascha ; Glatzel, Thilo
ISBN: 9783030092986

portada Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (en Inglés)

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Sadewasser, Sascha ; Glatzel, Thilo

Idioma

Inglés

N° páginas

521

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 2.8 cm

Peso

0.76 kg.

ISBN13

9783030092986

Categorías

Termodinámica y calor
Química física
Ingeniería aplicada de revestimientos de superficies, capas y películas

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (en Inglés)

Sadewasser, Sascha ; Glatzel, Thilo (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Presents the applications of Kelvin probe force microscopy in nanotechnologyProvides an in-depth description of a variety of theoretical and experimental aspects of the techniqueIncludes contributions by the leading experts in the field

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